32.768KHz晶振測試儀

一． 概述

CX-118A型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標的通用測試儀器。

儀器采用超高精度的有源溫補晶振作為時間基準；高速ECL電路進行信號的整形、放大、計數 ;單片機進行系統管理及數據處理。儀器自身帶有*常用的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試40MHZ以下的無源基頻晶振（超過40M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。

二．功能及用途

CX-118A型晶振測試儀可直接測量40MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；

配備不同規格的“貼片晶振測試座”后可以測量。

該設備可以測量如下類型的參數：

1.頻率

2.周期

3.頻率偏差率

4.頻率漂移率

5.漂移監測時間

三．主要技術指標

1. 頻率測量范圍：32.768KHz-100MHz

2. 周期測量范圍：1ns-10s

3. 采樣時間（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可調

4. 頻率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 時R.P.=100HZ

T=0.1s 時R.P.=10HZ

T=1s 時R.P.=1HZ

T=10s 時R.P.=0.1HZ

5. 基準頻率：10MHz

6. 基準精度：2ppm

7. 測量精度：2.5倍基準精度+1 R.P.

8. 外部輸入信號幅度：50mv-10v

9. 環境溫度：20±15℃

10. 電源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W